卓上型 透過型電子顕微鏡LVEM5

LVEM5は卓上で手軽に使える、世界で唯一の【透過型電子顕微鏡(TEM)】※2019年9月現在

ナノファイバー(TEM画像)

グラフェン(TEM画像)

HIVウィルス(TEM画像)

特長

  • 1.2 nmの画像解像度(TEMブーストモード使用時。標準TEMモード:2.0nm)
  • 1台でTEM(電子回析含む)、SEM、およびSTEMイメージングモードが搭載できる汎用性。サンプルの同じ領域を、TEM、SEM、STEMモードを切り替えるだけで観察が可能。(各イメージモード搭載時)
  • 抜群の省スペース設計、卓上タイプなので特別な施設も不要。
  • 低電圧(5KV)の為、生体材料観察時に試料へのダメージ軽減及び、染色無しでの観察、軽元素・軽金属の観察に有効。
  • 簡単操作で誰にでも扱える為、専任オペレータは不要。
  • 独自設計の永久磁石レンズは冷却が不要
  • イオンゲッターポンプの採用によりクリーンで振動が無く、高真空を実現。

デモ対応致します!※デモご要望の際には、弊社までご連絡下さい。

簡単に切替が出来る多彩なイメージングモード

システム構成に応じて、LVEM5は、透過型電子顕微鏡(TEM)、走査型電子顕微鏡(SEM)、走査型透過電子顕微鏡(STEM)として動作します。 試料の同じ領域を複数のイメージングモードを切替えて実行出来る為、表面画像と透過画像の両方をキャプチャする事が可能です。 また、カラムを再調整したり試料を調整をすることなく、電子回折(ED)データを取得可能です。 ※BASIC TEMモードに必要なオプションモードを追加する事でワンクリックでモードを切替え使用が出来ます。

  • BASIC TEMモード

    TEMモードのデジタルイメージングは、LVEM5の頂上に取り付けたペルチェ冷却型CCDデジタルカメラによって形成されます。標準TEMモードでは、画像キャプチャはQImaging社Retiga4000Rで行われます。それは、2048×2048画素のプログレッシブスキャンインターラインCCDを搭載した高感度デジタルカメラです。画像キャプチャソフトウェアは、高性能画像データの取得、文書化、および解析のために設計されています。平均化やライブFFTおよび自動コントラスト調整などの各種画像処理手順が利用可能です。

  • SEMモード

    後方散乱電子検出器は、走査電子顕微鏡検査と透過型電子顕微鏡を並列に実行可能にするように設計され、電子光学カラムに直接組み込まれています。ボタンをクリックするだけで、SEMモードに簡単に切替え、試料の同一領域を観察する事ができます。 SEMモードでは、電子ビームが小さいスポットに集束され、次にサンプル上を繰り返しスキャンします。後方散乱電子は、円環状固体検出器によって収集されます。画像は、2,048×2,048ピクセルまでの解像度で保存することができます。

  • STEMモード

    走査型透過電子顕微鏡は、STEM検出器を追加することで可能になります。 このモードでは、染色した試料の観察、TEMモードでは観察できない厚いサンプルや、より密度の高い素材から透過画像を取得できます。

  • EDモード

    電子回折パターンは、結晶性または部分結晶材料(セラミック、金属またはポリマー)薄片試料に対して得られます。パターン(リングまたはドットと個々のリングの強度との間の距離)の設定は、分析材料特定の結晶相の特長です。回折パターンは、試料の結晶構造、結晶角、試料の位相構造に関する情報を提供します。

TEMモード

LVEM5はナノ粒子と薄片の透過型電子顕微鏡TEMイメージング用にCCDカメラまたは、CMOSカメラを装備出来ます。

SEMモード

後方散乱電子(BSE)検出器を利用し、試料の表面構造を鮮明に観察することができます。SEMモードボタンをクリックするだけでTEMモードから簡単切替が可能、目的のエリアの凹凸情報を観察可能です。

LVEM5 TEMモード画像 LVEM5 SEMモード画像
STEMモード

走査型透過電子顕微鏡(STEM)は、STEM検出器を追加する事で観察可能になります。このモードではより密度の高い素材の透過画像を観察できます。

EDモード

電子回折は、結晶材料の構造特性を提供します。

LVEM5 STEMモード画像 LVEM5 EDモード画像

主なアプリケーション

ライフサイエンス

従来の透過型電子顕微鏡では、有機材料に対して適切なコントラストを得る為に重金属染色を使用する必要がありますが、LVEM5は、独自の低電圧源(5kV電子源)により、染色無しで、有機体およびその他のソフトマテリアルを高いコントラストで観察が出来ます。 また、試料の前処理工程が簡素化、自然な状態の試料の撮像が可能になります。

※下記クリックで、LVEM5の画像ギャラリー(Delong America Applicationsサイト)をご覧頂けます。

材料科学

ナノ構造材料の高コントラストかつ高解像度画像が得られることから、形態学的特性評価及びサイズ分布分析に有効なサンプルデータが得られます。また、位相成分と結晶構造の研究も可能です。

※下記クリックで、LVEM5の画像ギャラリー(Delong America Applicationsサイト)をご覧頂けます。

デモ対応致します!※デモご要望の際には、弊社までご連絡下さい。

LVEM5 概略仕様 ※オプション含む

LVEM5 卓上 透過型電子顕微鏡

操作 イメージングモード
公称加速電圧 5kV BASIC TEMモデル
試料サイズ 標準ф3.05mm TEMグリッド 投影レンズ 静電単レンズ
試料移動 x, y: ± 1 mm、z: ± 0.3 mm  解像力 2.0nm
チルトホルダー ±22°  総合倍率 2,200-230,000×
試料交換時間 約3分  イメージキャプチャ CCD 2,048×2,048ピクセル
12ビット
真空 TEMブーストモデル
エアロックシステム 投影レンズ 静電二重レンズ
 ダイヤフラムとターボ分子ポンプ 10-5mbar  解像力 1.2nm
オブジェクトスペース  総合倍率 1,400-700,000×
 イオンゲッターポンプ 10-7 mbar  イメージキャプチャ sCMOS 2,560×2,160ピクセル
16ビット
電子銃 電子線回折
 イオンゲッターポンプ 10-9 mbar 最小プローブサイズ 100nm
消費電力 カメラ長(ビニング1x1) CCD:2,100ピクセルsCMOS:2,390ピクセル
スタンバイ時 40 VA カメラ定数(ビニング1x1) CCD:36.3nmピクセルsCMOS:41.3nmピクセル
操作時 300 VA STEM
操作時(最大) 810 VA  解像力 2.0nm
電源  最大倍率 250,000×
電圧/周波数 100–240 V / 50–60Hz  最大視野 25×25μm
重量・寸法 SEM(BSE検出器)
寸法(幅×奥行×高さ) 296 × 440 × 690 mm  解像力 4.0nm
エアロックポンプシステム  最大倍率 100,000×
重さ 17kg  最大視野 200×200μm
寸法(幅×奥行×高さ) 300 × 300 × 355 mm SCAN イメージキャプチャー
電子ユニット キャプチャーサイズ 最大2,048×2,048ピクセル
8ビット
重さ 19kg
寸法(幅×奥行×高さ) 470 × 270 × 290 mm