LVEM5　低電圧透過型電子顕微鏡（卓上TEM）低価格、SEM/STEM追加可

• 優れた性能・多機能で圧倒的な低価格。優れたコストパフォーマンス！
• 1.2 nmの画像解像度（TEMブーストモード使用時。標準TEMモード：2.0nm）
• 1台でTEM（電子回析含む）、SEM、およびSTEMイメージングモードが搭載できる汎用性。サンプルの同じ領域を、TEM、SEM、STEMモードを切り替えるだけで観察が可能。（各イメージモード搭載時）
• 抜群の省スペース設計、卓上タイプなので特別な施設も不要。
• 低電圧（5KV）の為、生体材料観察時に試料へのダメージ軽減及び、染色無しでの観察、軽元素・軽金属の観察に有効。
• 簡単操作で誰にでも扱える為、専任オペレータは不要。
• 独自設計の永久磁石レンズは冷却が不要
• イオンゲッターポンプの採用によりクリーンで振動が無く、高真空を実現。

システム構成に応じて、LVEM5は、透過型電子顕微鏡（TEM）、走査型電子顕微鏡（SEM）、走査型透過電子顕微鏡（STEM）として動作します。 試料の同じ領域を複数のイメージングモードを切替えて実行出来る為、表面画像と透過画像の両方をキャプチャする事が可能です。 また、カラムを再調整したり試料を調整をすることなく、電子回折（ED）データを取得可能です。 ※BASIC TEMモードに必要なオプションモードを追加する事でワンクリックでモードを切替え使用が出来ます。

• BASIC TEMモード

  TEMモードのデジタルイメージングは、LVEM5の頂上に取り付けたペルチェ冷却型CCDデジタルカメラによって形成されます。標準TEMモードでは、画像キャプチャはQImaging社Retiga4000Rで行われます。それは、2048×2048画素のプログレッシブスキャンインターラインCCDを搭載した高感度デジタルカメラです。画像キャプチャソフトウェアは、高性能画像データの取得、文書化、および解析のために設計されています。平均化やライブFFTおよび自動コントラスト調整などの各種画像処理手順が利用可能です。

• SEMモード

  後方散乱電子検出器は、走査電子顕微鏡検査と透過型電子顕微鏡を並列に実行可能にするように設計され、電子光学カラムに直接組み込まれています。ボタンをクリックするだけで、SEMモードに簡単に切替え、試料の同一領域を観察する事ができます。 SEMモードでは、電子ビームが小さいスポットに集束され、次にサンプル上を繰り返しスキャンします。後方散乱電子は、円環状固体検出器によって収集されます。画像は、2,048×2,048ピクセルまでの解像度で保存することができます。

• STEMモード

  走査型透過電子顕微鏡は、STEM検出器を追加することで可能になります。 このモードでは、染色した試料の観察、TEMモードでは観察できない厚いサンプルや、より密度の高い素材から透過画像を取得できます。

• EDモード

  電子回折パターンは、結晶性または部分結晶材料（セラミック、金属またはポリマー）薄片試料に対して得られます。パターン（リングまたはドットと個々のリングの強度との間の距離）の設定は、分析材料特定の結晶相の特長です。回折パターンは、試料の結晶構造、結晶角、試料の位相構造に関する情報を提供します。

TEMモード LVEM5はナノ粒子と薄片の透過型電子顕微鏡TEMイメージング用にCCDカメラまたは、CMOSカメラを装備出来ます。	SEMモード 後方散乱電子（BSE）検出器を利用し、試料の表面構造を鮮明に観察することができます。SEMモードボタンをクリックするだけでTEMモードから簡単切替が可能、目的のエリアの凹凸情報を観察可能です。
STEMモード 走査型透過電子顕微鏡（STEM）は、STEM検出器を追加する事で観察可能になります。このモードではより密度の高い素材の透過画像を観察できます。	EDモード 電子回折は、結晶材料の構造特性を提供します。

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