低電圧透過型電子顕微鏡（TEM）　LVEM25

簡単に切替ができる多彩なイメージングモード

◆TEMモード（透過型電子顕微鏡）

LVEM25のTEMモードの特徴的な点は強化されたコントラストです。透過型電子顕微鏡の高倍率画像は、入射した電子が、サンプルの中の原子などによって特異的に散乱し、電子光学経路をたどり、シンチレーターとカメラによって光学イメージとして結像します。

LVEM25は、従来から使用されている約100nmの薄片試料で撮像ができます。

◆STEMモード（走査型透過電子顕微鏡）

STEMイメージはTEMと異なり、同時に電子ビームにフラッドされるのとは対照的に、電子像は最終的に狭いプローブとサンプルを横切るようにスキャンし集光します。この技術は、特に厚く、染色したサンプルに有効です。

◆EDモード（電子回析）

LVEM25における電子回析パターンは、結晶性または部分結晶性材料（セラミック、金属またはポリマー）の薄井サンプルに対して得られます。単結晶または高度にテクスチャ化した薄膜は、ドットパターンを生成しながら、多結晶領域は、環状の回析パターンを生成します。パターン（リングまたはドットと個々のリングの相対強度との間の距離）の設定は、分析、材料に見出すことができる特定の決勝髞の特徴です。

LVEM25における回析モードがTEMモードから簡単にアクセスし、取得したパターンは、特定の領域またはサンプル中に存在する機能（粒、粒子、フェーズ）に起因します。取得された回析パターンのその後の分析は、サンプルの結晶化度及び相組成の程度を結晶構造に関する情報を提供することができます。