LVEM25 低電圧透過型電子顕微鏡 (TEM) 高コントラスト コンパクト

LVEM25は高コントラスト、高処理能力、ナノメーター分解能でのイメージングソリューションを提供しながら省スペース化を実現します。また、透過型電子顕微鏡(TEM)、走査透過型電子顕微鏡(STEM)、さらに電子回析(ED)の機能を持ちながらも、サンプルの移動やカラムの再配置を行わずにイメージングモードを切り替えることができます。LVEM25は総合的なイメージングツールです。

 

特長

・騒音、振動対策が不要。

・独自設計の永久磁石レンズの採用により、冷却システムが不要。

・従来から使用されている約100nmの薄片サンプルで撮像が可能。

・1台でTEM/STEM/EDのイメージングモードを搭載できる。

・簡単な操作で誰でも扱える為、専任オペレータが不要。

 

簡単に切替ができる多彩なイメージングモード

◆TEMモード(透過型電子顕微鏡)

LVEM25TEMモードの特徴的な点は強化されたコントラストです。透過型電子顕微鏡の高倍率画像は、入射した電子が、サンプルの中の原子などによって特異的に散乱し、電子光学経路をたどり、シンチレーターとカメラによって光学イメージとして結像します。

LVEM25は、従来から使用されている約100nmの薄片試料で撮像ができます。

 

◆STEMモード(走査型透過電子顕微鏡)

STEMイメージはTEMと異なり、同時に電子ビームにフラッドされるのとは対照的に、電子像は最終的に狭いプローブとサンプルを横切るようにスキャンし集光します。この技術は、特に厚く、染色したサンプルに有効です。

 

◆EDモード(電子回析)

LVEM25における電子回析パターンは、結晶性または部分結晶性材料(セラミック、金属またはポリマー)の薄井サンプルに対して得られます。単結晶または高度にテクスチャ化した薄膜は、ドットパターンを生成しながら、多結晶領域は、環状の回析パターンを生成します。パターン(リングまたはドットと個々のリングの相対強度との間の距離)の設定は、分析、材料に見出すことができる特定の決勝髞の特徴です。

LVEM25における回析モードがTEMモードから簡単にアクセスし、取得したパターンは、特定の領域またはサンプル中に存在する機能(粒、粒子、フェーズ)に起因します。取得された回析パターンのその後の分析は、サンプルの結晶化度及び相組成の程度を結晶構造に関する情報を提供することができます。

 

TEMモード

LVEM25はナノ粒子と薄片の透過型電子顕微鏡TEMイメージング用に

sCMOSカメラを搭載しております。

  

    腎臓  1μm            カーボンブラック 5nm

STEMモード

走査型透過電子顕微鏡(STEM)は、STEM検出器を追加する事で観察可能になります。このモードではより密度の高い素材の透過画像を観察できます。

EDモード

電子回折は、結晶材料の構造特性を確認できます。

 

 

硫化亜鉛量子ドット 100nm

グラフェン

 

分野

病理学研究

病理学の分野の研究者は、LVEM25で撮像された驚くほど高いコントラストの画像が彼らの研究に役立っています。詳細な画像例をいくつか挙げると、腎臓病、筋肉障害、毛様体機能障害、神経障害、ウイルス感染などの病気の診断に役立ち、さまざまな組織の超微細な病理学的変化の分析を可能にします。LVEM25が病理学研究においてどのように使用されるかについての詳細は、ここをクリックしてください

  

 ナノ粒子の特性評価

ナノ粒子の特性評価で重要な研究を行っているラボにとって、LVEM25は、粒子サイズとカウント分布、粒子の形状、表面の形態、およびフィラメントの形態に関する必要な詳細を提供可能な不可欠な特性評価ツールです。アプリケーションでのLVEM25の使用方法の詳細については、ここをクリックしてください

 

 ポリマー研究

LVEM25は加速電圧が低いことがもたらす高コントラストにより、ポリマーの分子組成による低コントラストのイメージング問題には関係ありません。LVEM25は、これらのナノ構造ポリマーの形態を大いに理解するのに役立ちます。LVEM25がポリマー研究アプリケーションでどのように使用されるかについての詳細は、ここをクリックしてください

 

 細胞生物学

細胞内の組織、機能、および特性の理解が、細胞生物学の研究者が電子顕微鏡を使用する理由です。LVEM25は、従来のTEMに比べてコントラストの高い画像を提供します。LVEM25が細胞生物学研究アプリケーションでどのように使用されるかについての詳細は、ここをクリックしてください

  

 

LVEM25のギャラリーはこちら

 

主な仕様

イメージングモード TEM、ED、STEM
TEM  
       加速電圧 25kV
       解像度 1.0nm
       倍率 1,127〜430,743×
       視野 100〜0.25μm
ELECTRON DIFFRACTION  
       プローブの最小サイズ 500 nm
STEM 15  
       加速電圧 15kV
       解像度 1.3nm
       最大倍率 375,000×
       最大視野 80×80μm
STEM 10  
       加速電圧 10kV
       解像度 1.0nm
       最大倍率 470,000×
       最大視野 105×105μm

 

カタログダウンロードはこちら

お問い合わせはこちら